圖像視覺檢測設(shè)備檢測工業(yè)產(chǎn)品外觀方案！
作者 : 安徽思普泰克發(fā)布時間 : 2020-03-05 瀏覽 : 203 次
注明：圖像視覺檢測設(shè)備檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于180件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容：
最大尺寸長25.93mm*寬16.67 mm*高25.03mm的產(chǎn)品的外觀檢測
注明：圖像視覺檢測設(shè)備檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于180件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
三、樣件測試圖片:
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：壓傷
頂部正光檢測原圖：
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：無壓花（梅花型）
頂部正光檢測原圖：
頂部正光檢測不良品分析圖NG 不良原因：缺損（花型不完整）
頂部正光檢測原圖：
頂部正光檢測不良品分析圖NG 不良原因：壓傷（劃痕或壓痕）
頂部正光檢測原圖：
四、圖像視覺檢測設(shè)備安裝要求:
| 序號 | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 | 備注 |
| 1 | 外底部壓傷（劃痕） | 底部正光檢測 | 可檢 |
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| 2 |
底部無壓花(梅花型） |
頂部正光檢測 | 可檢 |
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| 3 | 壓花缺損(花型不完整） | 頂部正光檢測 | 可檢 |
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| 4 | 孔內(nèi)底部壓傷（劃痕或壓痕） | 頂部正光檢測 | 可檢 | 注：（在梅花型內(nèi) |
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劃痕.壓痕不可檢) |
注明：圖像視覺檢測設(shè)備檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于180件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
二、圖像視覺檢測設(shè)備組成及主要機構(gòu)
設(shè)備型號：SP-T300標準檢測設(shè)備
組成部件清單：
| 序號 | 部件名稱 | 規(guī)格型號 | 數(shù)量 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
| 4 | 工業(yè)相機 | Barsler工業(yè)相機 | 2套 |
| 5 | 相機調(diào)節(jié)模組 | SIPOTEK定制 | 2套 |
| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 | 2套 |
| 7 | 光源 | 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 | 2套 |
| 8 | 檢測平臺 | 專業(yè)光學(xué)玻璃載臺 | 1套 |
| 9 | 伺服電機 | 松下·PANASONIC | 1套 |
| 10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 11 | PLC運動協(xié)作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
圖像視覺檢測設(shè)備外觀3D立體圖
三、樣件測試圖片:
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：壓傷
頂部正光檢測原圖：
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：無壓花（梅花型）
頂部正光檢測原圖：
頂部正光檢測不良品分析圖NG 不良原因：缺損（花型不完整）
頂部正光檢測原圖：
頂部正光檢測不良品分析圖NG 不良原因：壓傷（劃痕或壓痕）
頂部正光檢測原圖：
頂部正光檢測不良品分析圖NG 不可檢 不良原因：壓傷（劃痕或壓痕）
四、圖像視覺檢測設(shè)備安裝要求:
設(shè)備放置的檢測空間: 安裝思普泰克視覺檢測系統(tǒng)的標準檢測設(shè)備，需要保證有足夠的空間以安裝設(shè)備。
環(huán)境溫度： 0-50攝氏度；
空氣濕度： 90% RH以下；
電子干擾： 為設(shè)備提供電子干擾較小的地方。
電源： 交流220V，50Hz， 耗電＜1KVA。
是一家專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)自動化檢測設(shè)備，視覺檢測設(shè)備，光學(xué)篩選機的生產(chǎn)廠家，本公司提供不同行業(yè)的自動化檢測設(shè)備的非標定制生產(chǎn)···
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